| 1. Identificação | ||||
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) | |||
| Site | mtc-m21b.sid.inpe.br | |||
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S | |||
| Identificador | 8JMKD3MGP5W34M/3FE23CB | |||
| Repositório | sid.inpe.br/mtc-m21b/2013/12.20.20.03 | |||
| Última Atualização | 2014:01.16.18.37.17 (UTC) administrator | |||
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/mtc-m21b/2013/12.20.20.03.34 | |||
| Última Atualização dos Metadados | 2021:07.28.21.55.10 (UTC) administrator | |||
| DOI | 10.1117/12.2021695 | |||
| ISSN | 0277-786X | |||
| Rótulo | self-archiving-INPE-MCTI-GOV-BR | |||
| Chave de Citação | PaesBeloBernSilv:2013:SpPhMe | |||
| Título | Spectrum photoluminescence measuring system of porous silicon samples  | |||
| Ano | 2013 | |||
| Data de Acesso | 02 maio 2024 | |||
| Tipo de Trabalho | conference paper | |||
| Tipo Secundário | PRE PI | |||
| Número de Arquivos | 1 | |||
| Tamanho | 1657 KiB | |||
| 2. Contextualização | ||||
| Autor | 1 Paes, Tiago Franca 2 Beloto, Antonio Fernando 3 Berni, Luiz Ângelo 4 Silva, Lilian Mieko | |||
| Identificador de Curriculo | 1 2 8JMKD3MGP5W/3C9JGJ8 3 8JMKD3MGP5W/3C9JHMN | |||
| Grupo | 1 CMS-ETES-SPG-INPE-MCTI-GOV-BR 2 LAS-CTE-INPE-MCTI-GOV-BR 3 LAS-CTE-INPE-MCTI-GOV-BR | |||
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) | |||
| Endereço de e-Mail do Autor | 1 ticopaes@gmail.com 2 3 berni@las.inpe.br | |||
| Endereço de e-Mail | beloto@las.inpe.br | |||
| Revista | Proceedings of SPIE | |||
| Volume | 8785 | |||
| Número | 8785A9 | |||
| Nota Secundária | B2 B3 B3 B3 B3 B4 B4 C C | |||
| Histórico (UTC) | 2013-12-20 20:03:34 :: beloto@las.inpe.br -> administrator :: 2021-07-28 21:55:10 :: administrator -> marcelo.pazos@inpe.br :: 2013 | |||
| 3. Conteúdo e estrutura | ||||
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz | |||
| Estágio do Conteúdo | concluido | |||
| Transferível | 1 | |||
| Tipo do Conteúdo | External Contribution | |||
| Tipo de Versão | publisher | |||
| Palavras-Chave | porous silicon photoluminescence spectrum measuring system | |||
| Resumo | The porous silicon is a material made by monocrystalline silicon wafers which has a structure and properties that depends on the wafers characteristics and its obtaining process. The material has a use potential in different fields of knowledge and technological application such as solar cells, humidity or gases sensors. The photoluminescence, obtained by the incidence of ultraviolet radiation over the material, has been the most studied property, noting especially the understanding of chemical and physical phenomena present in this material that can even explain its formation process. This study aimed to build a spectrum measuring system of porous silicon photoluminescence to determine the profile of the porous silicon photoemission curve for comparison between the morphology of the porous silicon and its photoluminescence. | |||
| Área | FISMAT | |||
| Arranjo 1 | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Spectrum photoluminescence measuring... | |||
| Arranjo 2 | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção pgr ATUAIS > CMS > Spectrum photoluminescence measuring... | |||
| Conteúdo da Pasta doc | acessar | |||
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos | |||
| Conteúdo da Pasta agreement |
| |||
| 4. Condições de acesso e uso | ||||
| URL dos dados | http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP5W34M/3FE23CB | |||
| URL dos dados zipados | http://urlib.net/zip/8JMKD3MGP5W34M/3FE23CB | |||
| Idioma | en | |||
| Arquivo Alvo | 8785A9.pdf | |||
| Grupo de Usuários | administrator banon beloto@las.inpe.br marcelo.pazos@inpe.br | |||
| Grupo de Leitores | administrator banon marcelo.pazos@inpe.br | |||
| Visibilidade | shown | |||
| Política de Arquivamento | allowpublisher allowfinaldraft | |||
| Permissão de Atualização | não transferida | |||
| 5. Fontes relacionadas | ||||
| Vinculação | Trabalho Vinculado à Tese/Dissertação | |||
| Repositório Espelho | iconet.com.br/banon/2006/11.26.21.31 | |||
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 8JMKD3MGPCW/3F358GL | |||
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 1 sid.inpe.br/bibdigital/2013/10.14.21.39 1 | |||
| Divulgação | WEBSCI; COMPENDEX; SCOPUS. | |||
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.20 | |||
| 6. Notas | ||||
| Notas | Ibero American Optics Meeting, 8.; Latin American Meeting on Optics, Lasers, and Applications, 11. Nov. 2013. Porto | |||
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel format isbn lineage mark month nextedition orcid pages parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readpermission rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey session shorttitle sponsor subject tertiarytype url | |||
| 7. Controle da descrição | ||||
| e-Mail (login) | marcelo.pazos@inpe.br | |||
| atualizar | ||||